四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備,該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
目前,
四探針測試儀由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。
四探針軟件測試系統(tǒng)是個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析。
四探針測試儀的操作步驟:
1、松開筆身尾端側面的固定小螺絲,輕輕脫下尾航空插口,保證探針頭旋轉時同步旋轉,防止扭線斷線,短接;
2、輕輕擰開探針頭子,然后小心將銅片拉出,記住七片緣片與銅片之間的位置,將斷針從銅片卡口座里取下即可;
3、特別注意定不能將銅片取下時的位置錯亂,銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序字排列,并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列,以免短接;
4、安裝時銅片及緣片按照拆下時的排列輕輕塞探針頭子,并將探針頭子擰緊,再將尾航空頭插上,并且旋緊小螺絲;
5、將針裝好,注意針頭針尾方向,尖頭為探針頭。